Pinnacle 設(shè)備可以運(yùn)行操作一個(gè)或多個(gè)View Micro-Metrology的標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量軟件程序:

• VIEW Metrology Software (VMS?) 是基于Pinnacle+Plus的，并提供多種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量工具以及內(nèi)置腳本語言，可以滿足客戶各種功能需求。

• Elements? CAD-to-Measure software 在Pinnacle+Plus上是可選功能，在測(cè)量程序中可以自動(dòng)翻譯2-D CAD 文件，甚至一些很復(fù)雜的產(chǎn)品也可以實(shí)現(xiàn)快速建立測(cè)量程序。

• Measure-X?  可選測(cè)量軟件， 通過測(cè)量直觀的點(diǎn)，常規(guī)界面來指導(dǎo)使用者。

X,Y,Z 測(cè)量范圍 (mm) :250 x 150 x 50

X,Y,Z 刻度分辨率:      XY - 0.05 μm, 膨脹材料

                               Z- 0.01μm, 膨脹材料

平臺(tái)驅(qū)動(dòng):    光滑,線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X&Y, 直流伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)Z
速度 :   X,Y- 200 mm/sec     ，  Z- 250 mm/sec
載重 :   25 kg
影像組件 : 單一放大,出廠配置安裝延伸管和附加光學(xué)鏡頭

計(jì)量相機(jī) :

          標(biāo)準(zhǔn):1.4 兆像素 (1392 x 1040), 1/2-英寸,數(shù)碼, 單色

          可選:1.4兆像素 (1392 x 1040), 2/3-英寸,數(shù)碼, 單色

                 2.0 兆像素 (1628 x 1236), 1/2-英寸,數(shù)碼, 單色

照明:

            標(biāo)準(zhǔn): 可編程LED照明系統(tǒng)，同軸底光，面光

            可選: 多色可編程環(huán)形光，可控制入射角度，柵格自動(dòng)聚焦系統(tǒng)

傳感器選項(xiàng):

           標(biāo)準(zhǔn): 無

           可選:TTL 激光; 

                 光深范圍的探針;  

                  離軸三角測(cè)量激光                                  
                     

控制組件:

               標(biāo)準(zhǔn):三軸操縱桿手動(dòng)控制平臺(tái)，帶停止和開始按鈕

               可選: 單一LCD平板顯示器, 電腦鍵盤鼠標(biāo)

                        雙液晶平板顯示器，電腦鼠標(biāo)鍵盤       

測(cè)量模式:移動(dòng)測(cè)量 (MAM) ，連續(xù)圖像捕獲(CIC)    

系統(tǒng)配置:多核處理器, Windows? 7 操作系統(tǒng)，可連接網(wǎng)絡(luò)，通訊端口

電源要求 :115/230 VAC, 50/60 Hz, 1-Phase, 1500W

相關(guān)環(huán)境: 溫度: 18°-22° C. | 濕度: 30% - 80% | 振動(dòng)小于 15Hz:<0.0015g

XY :   E2 =(1.0+5L/1000) μm

Z線性:  

           標(biāo)準(zhǔn):E1 =(1.5+5L/1000) μm E1  

           可選: (1.0+5L/1000) μm (with TTL laser and 5X lens)

注意事項(xiàng):

           規(guī)格參數(shù)適用于熱穩(wěn)定儀器和20°C溫度          

           1. 溫度變化: 1° C/Hour |

           2. 垂直溫度梯度: 1° C/Meter 
           3. 額定速度下均勻分布的負(fù)載： 5KG
           4.XY: QVI? 柵格線(low expansion material) or QVI標(biāo)準(zhǔn)面線性刻度尺，  標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量面是指工作平臺(tái)上25mm范圍

           5.Z軸: QVI 步距規(guī), 干涉儀或主量塊 

        Pinnacle250 全自動(dòng)非接觸式影像測(cè)量?jī)x是一款度、高的光學(xué)非接觸式三維坐標(biāo)影像測(cè)量?jī)x，適用于工藝過程控制測(cè)量和質(zhì)檢檢測(cè)應(yīng)用。    

     Pinnacle250 全自動(dòng)非接觸影像測(cè)量?jī)x適用范圍：
      ◆Flip chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等封裝間距、線寬、角度、弧度、高度等尺寸測(cè)量
      ◆ SMT組裝裝配、PCB&FPCB撓性電路等關(guān)鍵尺寸測(cè)量
      ◆ 絲網(wǎng)印刷的孔徑、位置、厚度、角度等測(cè)量
      ◆ Bump on die、Solder Paste、 光纖關(guān)鍵尺寸測(cè)量
      ◆IC & LED封裝引線架Lead frames、探針卡角度、間距、高度等測(cè)量
      ◆ LED SMD封裝測(cè)量，包括膠高、間距等測(cè)量
      ◆PhotoMask、MEMS晶圓級(jí)檢測(cè)、關(guān)鍵尺寸測(cè)量等應(yīng)用 

Pinnacle 250適用于對(duì)測(cè)量有很高要求的應(yīng)用場(chǎng)合。如微電子組裝、裝配、精密沖壓模具以及芯片封裝等。