元素分析儀|X熒光鍍層測厚為牛津推出的用來測試元素的含量或鍍層的厚度的電子測厚儀。
膜厚儀X-Strata980或鍍層測厚儀CMI980采用X射線熒光檢測的一種方式，地檢測出多層鍍層厚度（鍍液、鍍錫、鍍銀等）
X熒光鍍層測厚儀及痕量元素分析儀X-Strata980用途：
   X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀用來測試元素的含量或鍍層的厚度，可分析的元素范圍眾原子序數(shù)16位（S）至92位（U）;進行元素成分分析時，儀器可同步分析25種不同元素的含量。可同時分析5種鍍層（基材及4種鍍層）/15種元素/含常規(guī)元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN 50987所的進行鍍層厚度測試的方法。
 
X熒光鍍層測厚儀及痕量元素分析儀X-Strata980特征：
1、設計的RoHS分析界面，檢測結果一目了然。
2、強大的數(shù)輸功能（選件）
3、掃描分析及映 射成像功能（選件）
4、程控臺（選 件）
5、可變聚焦距離
6、樣品倉
7、PC與機品的一體化設計
8、電制冷PIN探測器，測量分辨率
9、行業(yè)的100瓦X射線管
10、5個初級濾 波器，信噪比，激發(fā)效率。
11、多準直器配置，滿足不同大小PAD位測量。
12、AITi樣品底座，大幅降低背景噪音，RoHS元素的檢測下限。
13、方便易用的經(jīng)驗系數(shù)法校準軟件
14、改進的基本參數(shù)法模型。
15、提供經(jīng)驗系數(shù)及基本參數(shù)的組合分析模型。
16、用戶操作界 面包含9種語言，使用方便。