介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀      

編號：GD 

規(guī)格：GCSTD-B 

高頻測量:20KHZ-160MHZ 

GCSTD-A/ B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 

滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 

一、概述 

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻等。 

該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。 

二、技術(shù)指標(biāo)  

1.   雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 

2.   雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 

3.   雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 

4.   自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 

5.   全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 

6.   DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。 

7.   計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至， Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 

8．　　使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。           

技術(shù)特性

GCSTD-A/ B dielectric constant and dielectric loss tester 

Meet the standards: GBT 1409-2006 measurement of electrical insulating materials at power, audio, high-frequency (including wavelength, VHF)recommended methods of permittivity and dielectric loss factor 

One, overview 

The dielectric loss and dielectric constant is all kinds of porcelain,porcelain, ceramic capacitors and other devices, and composite materialsis an important physical properties, by measuring the dielectric loss tangentof Tan δ and Permittivity (epsilon), can further understand the factors influencing the dielectric loss and dielectric constant, and provide the basis for improve the properties of materials; the basic principle of instrument is using high frequency resonance method, and provides a general, impedance test, multi use, multi range. It uses single-chip computer as core control measuring instrument, using the frequency locking, frequency standard test point automatic setting, resonant point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical display and other new technology, improved the tuning circuit, the tuning circuit for testing the residual inductance is reduced to the minimum, and retains the original Q table in the automatic amplitude stabilizer technology, makes the new instrument in the use of more convenient, more accurate measurement. Instrument in high frequency test conditions, measurement of high frequency inductor and resonant loop of the Q value, inductance and distributed capacitance of inductors, capacitance and loss tangent of dielectric loss, high frequency electrical materials, high frequency circuit in parallel and series resistance, the characteristic impedance of the tranission line 

Research and application of scientific research institutions, schools,factories and other units of the new material properties of inorganic nonmetal for the instrument. 

Two, technical indicators 

1 double scanning technology - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function. 

2 pairs of test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be input by dial keyboard. 

3 double dial tuning - dial frequency tuning, dial tuning capacitor. 

Automatic measurement of 4 automatic measurement techniques - Q value,resonant frequency and capacitance of test piece. 

5 the parameters of liquid crystal display, dial display main capacitor,inductor, Q value, signal source frequency, resonant pointer. 

6 DDS direct dial synthesis signal source to ensure high Baozhensource, high stability and high precision, amplitude and frequency. 

Automatic correction of 7 computer technology and test loop optimizationmakes the test loop residual inductance is reduced to the minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle. 

8 users can value detection device quality at any point in any given frequency apparatus, tuning capacitor, without attention range and conversion unit. 

Technology characteristics 

Model GCSTD-B GCSTD-A 

Q measurement range of 2 ~ 1023, range: 30, 100 grade, 300, 1000,automatic or manual shift Q value range: 2 ~ 1023. 

The Q value range shift: 30, 100, 300, 1000, automatic or manual shift. 

The inherent error ≤ 5% ± full scale value of 2% (200kHz ~ 10MHz) 

≤ 6% ± full scale value of 2% (10MHz ~ 160MHz) 20kHz ~ 10MHz 

≤ 5% ± full scale value 2%; 

10MHz to 50MHz; 

≤ 6% ± full scale value 2%;. 

Work with error less than 7% ± full scale value of 2% (200kHz ~ 10MHz) 

≤ 8% ± full scale value of 2% (10MHz ~ 160MHz) 20kHz ~ 10MHz 

≤ 7% ± full scale value 2%; 

10MHz to 60MHz; 

≤ 8% ± full scale value 2% 

Inductance measurement range of 4.5nH to 140mH 14.5nH~8.14H 

Capacitance measurement range of 1 ~ 200pF, 1 ~ 460pF 

The main capacitor adjustment range of 18 ~ 220pF, 30 ~ 500pF 

The following 150pF + 1.5pF; 

The main capacitor regulation accuracy 120pF ± 1.2pF; 120pF ± 1% 150pF ± 1% 

The signal source frequency coverage range of 100kHz ~ 160MHz and 10kHz ~ 50MHz 

The frequency segment (virtual) 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz, 10 ~ 99.9999MHz, 100 ~ 160MHz, 10 ~ 99.9999kHz 

100 - 999.999kHz 

1 - 9.99999MHz 

10 - 60MHz 

Frequency indication error of 3 × 10 -5 ± 1 words of 3 × 10-5 ± 1 words 

Three, the normal working conditions 

A. environment temperature: 0 ℃ ~ +40 ℃; 

Relative humidity: <80% b.; 

C. power supply: 220V ± 22V, 50Hz ± 2.5Hz. 

Four, product configuration: 

A. a test mainframe; 

B. inductor 9; 

A C. clamp 

Five, 

A. power consumption: about 25W; 

B. net weight: about 7kg; 

C. size: (L * b * h) mm:380 x 132 x 280. 

The D. test sample size: diameter is phi 50mm/ Phi 38mm thickness of 0.5-15MM