產品介紹
適合于對晶體進行雜質含量測試，其主要用途是對樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內的多種個元素進行分析。
產品特點
■干擾少，精密讀高，可以測量至ppb甚至ppt級的微量元素
■ 測試范圍廣，可以測量過75個以上的元素
■ 分析速度快，每個樣品的元素 2-6分鐘
■ 可同時分析多種元素,尤其適合分析用其它方法測定的元素
■ 靈敏度的元素分析儀器
■ 能進行無人控制操作
■ 具有痕量檢測能力
■ 低的儀器背景至0.5-0.05cps
■ 體積小巧、功能
■ 可獲取同位信息，進行半定量分析
■ 快的全譜同時測量能力和強大的干擾能力
■分辨率與靈敏度的配置，優(yōu)異的穩(wěn)定性以及的同位素豐度比值測量精密度
■ 動態(tài)線性范圍7個數(shù)量級以上
■ 每一個樣品中需要測量的元素數(shù)量多少均不影響樣品分析的整體速度
推薦工作條件
■ 室內環(huán)境溫度15～
■ 室內無強磁妨礙儀器正常工作的震動。
■ 室內環(huán)境清潔、干燥、沒有灰塵、無腐蝕性氣體。
■測試儀是精密儀器，為酸、堿及其它腐蝕性氣體、煙霧侵蝕儀器，須和化學實驗室分開；儀器光學系統(tǒng)對濕度、溫度要求很高，實驗室應安裝空調及去濕設備。
技術指標
■檢出限：ppt級
■ 樣品分析能力：多元素分析，可以測量過75個以上的元素，每個樣品的元素 2-6分鐘
■ 線性動態(tài)范圍：108
■ 電源：100～240V(±10%)，50/60HZ，300VA
典型用戶
南玻集團、洛陽中硅、新光硅業(yè)等
