OWT-200才用PHYS技術(shù),對透明、半透明、不透明幾乎的材料的厚度,TTV,LTV,彎曲度,平整度進(jìn)行無接觸測量,其對透明、半透明材料的高測量的性價比在同類測試儀器中是的。
產(chǎn)品特征
■無接觸傷測量
■高度及重復(fù)性
■測量材料范圍廣,透明、半透明、不透明幾乎材料的
厚度/彎曲度/平整度/LTV/TTV
■干擾強(qiáng),穩(wěn)定性好
■強(qiáng)大的工控機(jī)控制和大屏幕顯示
■一體化設(shè)計(jì)操作更方便,系統(tǒng)穩(wěn)定
■為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供的無接觸測量
■測試速度
技術(shù)指標(biāo)
■測試尺寸:50mm-200mm.
■厚度測試范圍:1000 um,可擴(kuò)展到1700 um
■厚度測試:+/-0.1um
■厚度重復(fù)性:0.050um
■TTV 測試:+/-0.1um
■TTV重復(fù)性:0.01um
■Warp/Bow:0.2um
■Warp/Bow重復(fù)度:0.5um
■測量時間:<100秒
■材料:透明、半透明、不透明幾乎的材料
■尺寸:560X650X400mm
■電源:220V 50Hz 300W








