飛針測(cè)試機(jī)是針對(duì)元件布置高密度、層數(shù)多、布線密度大、測(cè)點(diǎn)距離小的PCB板(印刷電路板)進(jìn)行測(cè)試的一種儀器,主要測(cè)試線路板的緣和導(dǎo)通值。測(cè)試儀一般采用“真值比較定位法”,能對(duì)測(cè)試過(guò)程和故障點(diǎn)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,測(cè)試的準(zhǔn)確性。飛針測(cè)試機(jī)具有 精細(xì)節(jié)距,不受網(wǎng)格限制,測(cè)試靈活,速度快等特點(diǎn)。
飛針測(cè)試——就是利用4支探針對(duì)線路板進(jìn)行高壓緣和低阻值導(dǎo)通測(cè)試(測(cè)試線路的開(kāi)路和短路)而不需要做測(cè)試治具,適合測(cè)試小批量樣板。飛針測(cè)試的出現(xiàn)已經(jīng)改變了低產(chǎn)量與快速轉(zhuǎn)換(quick-turn)裝配產(chǎn)品的測(cè)試方法,以前需要幾周時(shí)間開(kāi)發(fā)的測(cè)試現(xiàn)在幾個(gè)小時(shí)就可以了。
飛針測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面,飛針測(cè)試使用四到八個(gè)控制的探針,移動(dòng)到測(cè)試中的元件。在測(cè)單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)。然后固定,測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(pán)(test pad)和通路孔(via)從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候,UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以讀數(shù)干擾。
飛針測(cè)試機(jī)可檢查短路、開(kāi)路和元件值。在飛針測(cè)試上也使用了一個(gè)相機(jī)來(lái)幫助查找丟失元件。用相機(jī)來(lái)檢查方向明確的元件形狀,如性電容。隨著探針定位和可重復(fù)性5-15微米的范圍,飛針測(cè)試機(jī)可精密地探測(cè)UUT。
飛針測(cè)試解決了在PCB裝配中見(jiàn)到的大量現(xiàn)有問(wèn)題,如在開(kāi)發(fā)時(shí)缺少金樣板(golden standard board)。問(wèn)題還包括可能長(zhǎng)達(dá)4-6周的測(cè)試開(kāi)發(fā)周期;大約$10,000-$50,000的夾具開(kāi)發(fā)成本;不能經(jīng)濟(jì)地測(cè)試少批量生產(chǎn);以及不能快速地測(cè)試原型樣機(jī)(protote)裝配。這些情況說(shuō)明,傳統(tǒng)的針床測(cè)試機(jī)缺少測(cè)試低產(chǎn)量的系統(tǒng);缺乏對(duì)原型樣機(jī)裝配的快速測(cè)試覆蓋;以及不能測(cè)試到屏蔽了的裝配。
因?yàn)榫哂芯o密接觸屏蔽的UUT的能力和幫助更快到達(dá)市場(chǎng)(time-to-market)的能力,飛針測(cè)試是一個(gè)無(wú)價(jià)的生產(chǎn)資源。還有,由于不需要有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師,該系統(tǒng)可認(rèn)為是節(jié)省人力的具有附加價(jià)值和時(shí)間節(jié)省等好處的設(shè)備。
優(yōu)點(diǎn)包括:快速測(cè)試開(kāi)發(fā);較測(cè)試方法;快速轉(zhuǎn)換的靈;以及在原型階段為設(shè)計(jì)人員提供快速的反饋。
【應(yīng)用領(lǐng)域】
飛針測(cè)試、工業(yè)檢測(cè)、工業(yè)測(cè)量、圖像識(shí)別、對(duì)位定位、儀器儀表、顯微放大、機(jī)器視覺(jué)等工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域。








