三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓

查閱參考溫度范圍，提供一年保修

每秒測(cè)量 2 次

1 個(gè) 9 伏堿性電池 (LR61)

如果電壓低于 6.5 V，則會(huì)顯示 LO-BAT（低電量）

H/C2 和 E/C1 接頭之間：

 250 Veff（有效電壓）

S/P2 和 E/C1 接頭之間：

 250 Veff

VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個(gè) DIN 40040，4/87）

工作：

-10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F）

操作：

0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F）

存儲(chǔ)：

-20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F）

參考：

+23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)

量程的 ± 0.1 %，每開氏溫度

IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級(jí)污染

113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（(4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護(hù)套

850 克（1.9 磅），包括標(biāo)準(zhǔn)附件，體積約 600 立方厘米

如果不使用測(cè)試儀，或需要長(zhǎng)期存放，請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開存放，以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。

測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求；通過(guò)使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度，儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。

E1 影響因素

位置

E1 偏差影響

0%

E2 影響因素

電壓

E2 偏差影響

0%

E3 影響因素

溫度 E3

E3 偏差影響

2.3 %

E4 影響因素

串行干擾電壓 (20 V)

E4 偏差影響

0.6 %

E5 影響因素

探針和輔助探針電阻

E5 偏差影響

10%

3.7 kV

IP 40；IEC/EN 60529

輻射：EC/EN 61326，B 類

抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C

測(cè)量方法

使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量，無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn)

開放電路電壓

23 至 24 V ac

短路電流

> 50 mA ac

測(cè)量頻率

128 Hz

許可過(guò)載

250 Veff

8 秒（從按“開始”起計(jì)算的平均值）

即使測(cè)試儀關(guān)閉，仍會(huì)保留設(shè)定值（如果電池電量充足）

RH

< 7 kΩ

分辨率

0.01 Ω

RH

< 50 kΩ

分辨率

0.1 Ω

RH

> 50 kΩ

分辨率

1 Ω

電壓

30 Veff

共模抑制

> 80 dB，50 Hz 和 60 Hz

Ri

680 kΩ

測(cè)量誤差

對(duì)于純交流電和直流電信號(hào)，< 10 %

分辨率

0.01 Ω

顯示范圍

0 至 19.99 Ω

分辨率

0.1 Ω

顯示范圍

20 至 199.9 Ω

分辨率

1 Ω

顯示范圍

200 至 1999 Ω

±（測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字）

±（測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字）

[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值，即會(huì)閃爍。
測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。