- 產(chǎn)品品牌:
- 法國JY
- 產(chǎn)品型號:
- Activa
技術(shù)參數(shù)
波長連續(xù)覆蓋120—800nm
象素分辨率為0.0035nm,
全譜120-800nm測量僅需30秒!
主要特點
Activa是采用新一代背照射百萬像素固態(tài)檢測器與波長連續(xù)覆蓋120—800nm的光譜的ICP-OES儀器。完全可以選擇高靈敏度和無干擾的譜線進行元素的分析,尤其可以以高靈敏度的方式測定微量鹵素元素。
Activa采用光譜的無色差分光系統(tǒng),使得分辨率在全譜范圍內(nèi)恒定不變,這種設(shè)計免除了中階梯光柵CCD(CID)系統(tǒng)的缺點和局限(分辨率隨波長的增加而變差),她的單一的分光成像元件比二維色散光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的雜散光低得多,并且絕無普通CCD的“溢出”現(xiàn)象。
Activa的CCD采用真空冷卻的方式,既保證了極低的暗電流和讀出噪聲,又避免了大流量高純氣體的消耗,比任何的ICP光譜儀器起動更快速!
Activa 的象素分辨率為0.0035nm,因而適用于富譜線基體——如稀土、鎢、鉬、鋯等合金的分析,全譜120-800nm測量僅需30秒!
儀器介紹
Activa是采用新一代背照射百萬像素固態(tài)檢測器與波長連續(xù)覆蓋120—800nm的光譜的ICP-OES儀器。完全可以選擇高靈敏度和無干擾的譜線進行元素的分析,尤其可以以高靈敏度的方式測定微量鹵素元素。
Activa采用光譜的無色差分光系統(tǒng),使得分辨率在全譜范圍內(nèi)恒定不變,這種設(shè)計免除了中階梯光柵CCD(CID)系統(tǒng)的缺點和局限(分辨率隨波長的增加而變差),她的單一的分光成像元件比二維色散光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的雜散光低得多,并且絕無普通CCD的“溢出”現(xiàn)象。
Activa的CCD采用真空冷卻的方式,既保證了極低的暗電流和讀出噪聲,又避免了大流量高純氣體的消耗,比任何的ICP光譜儀器起動更快速!
Activa 的象素分辨率為0.0035nm,因而適用于富譜線基體——如稀土、鎢、鉬、鋯等合金的分析,全譜120-800nm測量僅需30秒!








