產(chǎn)品品牌：

牛津0XF0RD

X-Strata980元素分析儀或X熒光鍍層測厚儀CMI980為牛津推出的用來測試元素的含量或鍍層的厚度的電子測厚儀。
    產(chǎn)品簡介：
     X-Strata980元素分析儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應(yīng)用選擇合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。 
    X-Strata980元素分析儀應(yīng)用:
    --RoHS/WEEE
    --有害元素痕量分析
    --焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
    --電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量
    --五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
    --貴金屬合金分析和牌號鑒定
    X-Strata980鍍層測厚儀產(chǎn)品特點:
    --100瓦X射線管
    --25mm2PIN 探測器
    --多準(zhǔn)直器配置
    -掃描分析及元素分布成像功能
    --靈活運用多種分析模型
    --清晰顯示樣品合格/不合格
    --超大樣品艙
    --同時分析元素含量和鍍層厚度
    X-Strata980鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù):
    --元素范圍:S(16) to U(92)
    --可測鍍層層數(shù):5 層 (4 層+ 底材),可同時分析25種元素成份
    --X射線管功率:100W (50kV and 2mA)微焦點鎢靶X射線管
    --探測器:25mm2 PIN 電制冷固態(tài)探測器
    --濾波器/準(zhǔn)直器:多可包含5個初級濾波器和4個準(zhǔn)直器規(guī)格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)
    --數(shù)字脈沖處理器:4096多道數(shù)據(jù)分析功能;自動數(shù)據(jù)處理,包括死時間修正
    --電腦/顯示器/系統(tǒng)軟件
    Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
     15”LCD, 1024 x 768
     MicrosoftTM XP SP2
    --攝像系統(tǒng):1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
    --電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz
    --工作環(huán)境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
    --XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
    --樣品尺寸
     305 x 390 mm (12 x 15.4”)，樣品高度為 50mm (2”)
     305 x 352 mm (12 x 13.9”)，樣品高度為 203mm (8”)
    --艙室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
    --外型尺寸
     高765mm (30.1”)
    寬 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
     深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended