原廠(chǎng)ICT在線(xiàn)測(cè)試儀-人民幣49900起!
- 新思維CMOS+RELAY開(kāi)關(guān)卡設(shè)計(jì)
本公司ICT開(kāi)關(guān)卡設(shè)計(jì)前四端采用CMOS測(cè)量，可完全摒除內(nèi)阻對(duì)量測(cè)度的影響，第五端并采用RELAY以提高隔離的能力(GUARDING ABILITY)， 兼顧性能、速度及經(jīng)濟(jì)之要求。
- 真正寬頻測(cè)試技術(shù)
針對(duì)小電容、小電感的測(cè)試，提供高達(dá)2MHz頻率訊號(hào)(一般僅100KHz或1MHz)，可測(cè)率大幅提高，且更、穩(wěn)定。
- 人性化Windows介面，操作簡(jiǎn)單、上手容易
- 強(qiáng)大的板示功能(Board View)
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置，編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入零件編號(hào)、腳位、短/開(kāi)路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便問(wèn)題查找及維修。
- 五線(xiàn)式測(cè)試技術(shù)，可測(cè)四端元件
傳統(tǒng)二線(xiàn)、三線(xiàn)測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，易造成量測(cè)的死角。本公司機(jī)種采用五線(xiàn)式(5 wires)測(cè)試技術(shù)(2 wires信號(hào)， 2 wires測(cè)量表頭，1 wire Guarding)，可快速、量測(cè)。
- ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)(Automatic Testing Program Debug)，大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
- 完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，有效監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良零件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在，有效地達(dá)到如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。