optris紅外測(cè)溫儀特性測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
　　早期的頻率特性測(cè)試儀是通過(guò)手動(dòng)改變頻率的方法逐點(diǎn)測(cè)量完成的，后來(lái)按照這種方法設(shè)計(jì)了專門(mén)的掃描儀用于頻率特性的測(cè)量。早期的測(cè)量?jī)x大都采用分立元件來(lái)實(shí)現(xiàn)各種功能，顯示部分也是用傳統(tǒng)的示波器。所以體積大、設(shè)備重、故障率高、操作復(fù)雜、價(jià)格昂貴，有的只能測(cè)量幅頻特性，且不高。
　　近幾年，隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展，各種儀器都偏向小型化、數(shù)字化、智能化、低功耗方向發(fā)展，頻率特性測(cè)試儀作為一種重要的測(cè)量?jī)x器，也在不斷的發(fā)展，由于直接頻率合成(DDS)技術(shù)的日益成熟，為頻率特性測(cè)試儀的數(shù)字化開(kāi)辟了道路，液晶顯示器技術(shù)的成熟使頻率特性測(cè)試儀小型化成為可能。
　　頻率特性optris紅外測(cè)溫儀也得到改進(jìn)，掃頻源采用數(shù)字量進(jìn)行控制，數(shù)字化信號(hào)源可以彌補(bǔ)分立元件的不足，測(cè)量部分也進(jìn)行了數(shù)字化的改進(jìn)，大多都在低頻段(小于1MHz)，測(cè)試儀的智能化程度仍然不是很高，掃頻范圍也不寬，相位測(cè)量也不高，雖然有一些測(cè)試儀也具有很高的和很寬的掃頻范圍，但是價(jià)格極其昂貴。

　　設(shè)計(jì)了一個(gè)基于單片機(jī)頻率特性測(cè)試儀的成品。該系統(tǒng)基本達(dá)到了全數(shù)字化，這有利于縮小儀器的體積、減輕重量、降低成本，為用戶攜帶提供了方便。

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