金屬鍍層分析儀技術參數:
　1.Fischerscope X-RAY XULM是采用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
　2.原始射線從下至上；
　3.X-射線管高壓設定可調節(jié)至的應用：50kV，40kV或30kV；
　4.準值器組：圓直徑為0.3,02；在附加費用的基礎上可選擇0.05X0.3mm長方形準值器與0.05X0.05方形準值器
　5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大約為45kg；
　6.帶槽箱體的內部尺寸：（高×寬×深）240 mm×360 mm×380mm）帶向上回轉箱門；
　7.開槽式固定的工作樣品平臺
　8.試件查看用標準的彩色攝像機；
　9.測量開始/結束按鈕，及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體

金屬鍍層分析儀應用方面:
罩性金屬鍍層厚度測量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等
合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
雙鍍層厚度測量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等
雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等
三鍍層，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上
金屬成份分析，  多可以分析四種金屬元素 

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