- 品牌/商標(biāo)：上海精科分析儀器廠
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：上海
上海精科UV754N紫外可見分光光度計是一種能適應(yīng)現(xiàn)代分析實(shí)驗(yàn)室運(yùn)用光譜分析法對物質(zhì)進(jìn)行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專院校及質(zhì)量控制等部門。
技術(shù)參數(shù)：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
上海精科UV754N紫外可見分光光度計如果您對本產(chǎn)品價格、圖片、參數(shù)、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
技術(shù)參數(shù)：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
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