- 產品品牌：
- Labthink蘭光
- 產品型號：
- CHY-C2
- 測量范圍：
- 0~2mm常規(guī)
薄膜測厚儀
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。薄膜測厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項標準。
薄膜測厚儀CHY-C2具有以下特點：
1.接觸式測量；
2.測頭自動升降；
3.手動、自動雙重測量模式；
4.數據實時顯示、自動統(tǒng)計、打??；
5.顯示值、小值、平均值和統(tǒng)計偏差；
6.標準接觸面積、測量壓力（非標可選）；
7.標準量塊標定。
Labthink蘭光擁有先進的檢測技術與實驗室，致力于為范圍醫(yī)藥、食品、日化、包裝、印刷、膠粘劑、汽車、石化、環(huán)境、生物、新能源、建筑、航空及電子領域客戶提供、全面的品質控制解決方案。了解詳情請致電：濟南蘭光
