- 產(chǎn)品品牌：
- 菲希爾Fischer
- 產(chǎn)品型號：
- X-RAY XDVM
- 測量范圍：
- 0.03
FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，是針對高要求用戶設(shè)計(jì)的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細(xì)的表面結(jié)構(gòu)，它的新穎X－射線光學(xué)鏡片，創(chuàng)新的X-射線光學(xué)原理，使這部儀器能產(chǎn)生非常小，但高輻射強(qiáng)度的測量點(diǎn)，所以，測量數(shù)十微米的面積的結(jié)構(gòu)也變成可能。主要應(yīng)用于線路板測試、極細(xì)的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細(xì)微的線。有極高，可編程的XYZ測量臺及大移動(dòng)范圍，測量室為長方形內(nèi)槽設(shè)計(jì)，容許放入大面積的物件進(jìn)行測量。
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