- 品牌/商標(biāo)：德國(guó)尼克斯
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：德國(guó)
QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù): 零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無(wú)可比擬的優(yōu)越和提高。
QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無(wú)可比擬的優(yōu)越和提高。
| 技術(shù)參數(shù) | |
| 磁性基體(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
| 非磁性基體(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
| 測(cè)量范圍 | Fe:0-3000um/NFe:0-2000um |
| 顯示 | 0.1um |
| 0-50um:≤±1um50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
| 小接觸面 | 10×10mm |
| 小曲率半徑 | 凸面：3mm凹面：25mm |
| 小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
| 溫度補(bǔ)償范圍 | 0-60℃ |
| 顯示 | LCD液晶(帶背光) |
| 探頭 | 紅寶石固定式 |
| 電源 | 2×1.5V干電池 |
| 尺寸 | 100×60×27mm |
| 重量 | 110g |
