SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀價(jià)格/報(bào)價(jià):5800元
SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀介紹
- SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀用來測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。
- SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀用于、化工、紡織、染料等晶體化合物之測定，顯微鏡觀察。
- SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
- SGW X-4A型、SGW X-型顯微熔點(diǎn)儀帶有風(fēng)罩，減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響。
- 號：ZL.4。
SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù)
- 熔點(diǎn)測量范圍：室溫～320℃；
- 測量重復(fù)性：±1℃(在<200℃時)；±2℃(在200～300℃時)；
型號： | SGW X-4 | SGW X-4A | SGW X-4B |
溫度顯示小示值： | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式： | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù)： | 40× | 40× | 40×～100×變倍 |
SGW X-4系列顯微熔點(diǎn)儀價(jià)格
型號： | SGW X-4 | SGW X-4A | SGW X-4B |
價(jià)格(元) | 3800 | 4800 | 5800 |
