| 類型 | 比表面積測(cè)試儀 | 品牌 | 中國(guó) |
| 型號(hào) | HA | 測(cè)量范圍 | 1000 |
| 可測(cè)樣品狀態(tài) | 1 | 重復(fù)性誤差 | 1 |
| 外形尺寸 | 11*22*33（mm） | 適用范圍 | 工業(yè) |
測(cè)量范圍： 0.1-3500㎡/g（比表面積）；2nm-200nm 孔徑（孔隙率）分布
測(cè)試： 測(cè)量重復(fù)性誤差≤2%
樣品類型： 粉末，顆粒，纖維及片狀材料等
樣品數(shù)量： 可同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品的比表面積及孔徑分布分析(孔隙率測(cè)定)
測(cè)試氣體： 載氣為高純He氣（99.99%），吸附質(zhì)為高純N2（99.99%）或其它（按需選擇如Ar，Kr）
測(cè)試時(shí)間： 每樣品每 P/P0點(diǎn)吸附和脫附平均時(shí)間為5分鐘，比表面積及孔徑分布(孔隙率)結(jié)果自動(dòng)由軟件實(shí)時(shí)得出
測(cè)試壓力： 常壓下進(jìn)行，無(wú)需抽真空，有利于快速的比表面積及孔徑分布分析(孔隙率測(cè)定)
數(shù)據(jù)采集： 高及高集成度數(shù)據(jù)采集及處理芯片，誤差小，抗干擾能力強(qiáng)，有利于提高比表面積及孔徑分布分析(孔隙率測(cè)定)結(jié)果
數(shù)據(jù)處理： Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件，功能完善，操作簡(jiǎn)單，多種模式數(shù)據(jù)分析，圖形化比表面積及孔徑分布分析(孔隙率測(cè)定) 數(shù)據(jù)結(jié)果報(bào)表
控制系統(tǒng)： 采用先進(jìn)的控制技術(shù)，集中的多功能控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的完全自動(dòng)化，智能化，大大提高比表面積及孔徑分布分析(孔隙率測(cè)定) 效率
