| 品牌 | 立式光學(xué)計(jì) | 型號(hào) | JDG-S2 |
這是我廠新研制的大量程、高的計(jì)量?jī)x器。 本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)件與試件相比較的方式測(cè)量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等量塊，柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測(cè)量，對(duì)被測(cè)件作微小位移測(cè)量。亦可用來(lái)控制精密件的加工。 技術(shù)參數(shù) 被測(cè)件長(zhǎng)度 180 mm 直接測(cè)量范圍 ≥10 mm 小顯示值 0.0001 mm 測(cè)量力 (2±0.2) N 不準(zhǔn)確度 比較測(cè)量時(shí)：±0.00025 mm 直接測(cè)量時(shí)：0.0005mm 測(cè)量誤差 ±(0.5+L/100) μm L是被測(cè)長(zhǎng)度,以mm 儀器體積 250X150X440mm 儀器重量 18kg 標(biāo)準(zhǔn)配件 可調(diào)帶筋園臺(tái)、可調(diào)園平臺(tái) 平面測(cè)帽、平面測(cè)帽、小球面測(cè)帽、刃形測(cè)帽
