半導(dǎo)體分立器件高低溫巡測(cè)系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱巡測(cè)系統(tǒng)）主要用于半導(dǎo)體分立器件在高溫150℃、低溫-55℃環(huán)境中的電性能檢測(cè)。

    目前，許多的廠家對(duì)器件的質(zhì)量越來(lái)越重視，購(gòu)進(jìn)了一些高低溫設(shè)備，但是，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，卻是將被測(cè)試器件從高低溫箱中拿出來(lái)，然后再進(jìn)行測(cè)試，這個(gè)過(guò)程持續(xù)的時(shí)間雖然不長(zhǎng)，可被測(cè)器件的溫度已然有了變化，溫度環(huán)境的變化導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)的偏移，這不是我們所希望的。巡測(cè)系統(tǒng)可以解決上述的問(wèn)題，器件是在設(shè)定的溫度環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試的。

    巡測(cè)系統(tǒng)有自動(dòng)和手動(dòng)兩種控制方式。如果用戶需要和圖示儀、電橋等進(jìn)行連接，通常采用手動(dòng)控制方式，因?yàn)镈UT的合格與否，需要操作人員觀察圖示儀，然后加以判斷，不采用自動(dòng)方式。如果用戶希望購(gòu)買BC3193分立器件測(cè)試系統(tǒng)，則可以采用自動(dòng)方式進(jìn)行操作，并且測(cè)試的結(jié)果可以自動(dòng)紀(jì)錄，方便，推薦采用該方式進(jìn)行操作。

    巡測(cè)系統(tǒng)采用負(fù)載插座可更換的技術(shù)，以適應(yīng)各種被測(cè)試器件的封裝。除了適應(yīng)各種封裝外，巡測(cè)系統(tǒng)還可以對(duì)三端及以下封裝的各種器件進(jìn)行測(cè)試，如：三管、二管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等分立器件。

    巡測(cè)系統(tǒng)由三部分組成：系統(tǒng)控制盒、多路分配器和DUT插件板。

    系統(tǒng)控制盒內(nèi)置MCU，由它發(fā)出控制信號(hào)，控制多路分配器，將測(cè)試信號(hào)逐個(gè)切換到被測(cè)器件，以便對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試。

    DUT插件盒包含了多路分配器、其他一些控制，以及一個(gè)可以DUT插件板，使用時(shí)用戶可以將被測(cè)試器件成批插件板，然后放入高低溫箱中，連接好電纜，待溫度環(huán)境合適時(shí)，便可以由系統(tǒng)控制器進(jìn)行控制逐個(gè)將被測(cè)試器件測(cè)試完。

    插件板上的插座有多種樣式，可以滿足用戶的各種測(cè)試需求。